来源:TronSight(创视智能)
发布时间:2025-08-14
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在光伏产业的核心——晶体硅太阳能电池领域,硅晶圆的成本占据了电池总成本的相当大比例。为了降低成本并提升电池性能,超薄硅晶圆已成为行业发展的重要趋势。然而,晶圆厚度的减小虽然能有效降低硅材料消耗,但同时也带来了光吸收不足的挑战,尤其是在长波光范围。因此,光捕获策略和厚度优化设计对于超薄硅晶圆太阳能电池的效率提升至关重要。
超薄硅晶圆面临的光吸收挑战
传统的晶体硅太阳能电池晶圆厚度通常在150-200微米,能够较好地吸收太阳光谱中的大部分光子。然而,当晶圆厚度减少到100微米甚至更薄时,特别是对于红外波段的光子,硅的吸收系数较低,导致光子在穿透薄硅片后仍未被完全吸收,从而造成透射损失。这种未被利用的光能直接降低了电池的短路电流和量子效率,成为限制超薄电池效率提升的主要瓶颈。
超薄硅晶圆的光捕获策略
表面陷光结构
这是最直接有效的光捕获方法之一,通过在晶圆表面制作微米或纳米级的结构,使入射光发生多次反射和折射,从而延长光在硅材料中的传输路径,增加光吸收的机会。
金字塔结构:通过各向异性腐蚀单晶硅形成规则的微米级金字塔阵列。当光线入射到金字塔表面时,会发生多次反射,使得原本可能透射出去的光子被重新引导回硅内部。这种结构在主流晶体硅电池中广泛应用,能够显著降低表面反射率并增加光程。
倒金字塔结构:与金字塔结构类似,但具有更高的光捕获效率,尤其适用于背面陷光。
随机纹理化:通过化学腐蚀形成不规则的粗糙表面,同样能实现有效的陷光效果。
纳米结构:包括纳米线、纳米孔、纳米锥等,这些结构能够产生亚波长衍射效应和表面等离子体共振,进一步增强光的吸收。纳米结构具有更低的表面反射率和更强的光捕获能力,但其制备工艺复杂,且表面复合可能增加。
光子晶体结构:通过周期性排列的介电材料结构,可以在特定波长范围内形成光子带隙,从而控制光的传播,实现高效的光捕获。
背反射层
在超薄硅晶圆太阳能电池的背面沉积一层高反射率的材料,如银(Ag)或铝(Al),形成背反射层。任何未被正面吸收的光子在到达背面时,会被反射回硅内部,再次穿过硅层,从而为二次吸收提供机会。这种设计对于长波光尤为重要,因为它能有效增加长波光在硅中的有效光程。高效的背反射层结合良好的背面钝化,是实现高效率超薄电池的关键。
介质层堆叠与减反射层
在电池表面沉积多层具有不同折射率的介质膜,形成减反射膜。单层或多层减反射膜通过光学干涉效应,减少光在电池表面的反射损失,使更多的光进入硅材料。例如氮化硅是一种常用的减反射膜材料,同时它还具有钝化硅表面的作用。对于超薄电池,优化减反射膜的设计可以使其在更宽的波长范围内实现低反射率。
表面等离子体共振
利用金属纳米颗粒在光照下产生的表面等离子体共振效应,可以增强近场光强并散射光线,从而提高半导体的光吸收率。将这些金属纳米颗粒集成到超薄硅晶圆表面或背面,可以在特定波长范围内增强光的吸收,尤其对薄膜太阳能电池效率的提升有潜在价值。
叠层电池结构
叠层电池通过将不同带隙的半导体材料堆叠在一起,更有效地利用了太阳光谱。例如,钙钛矿/硅叠层电池中,钙钛矿电池作为上电池吸收短波光,而超薄硅电池作为下电池吸收长波光。在这种结构中,硅晶圆可以设计得非常薄,因为它只需要吸收透射下来的长波光,同时其超薄特性有助于将更多的短波光传输到上层电池,从而实现更高的整体效率。
超薄硅晶圆的厚度优化设计
光吸收与复合的平衡
理论上,硅的吸收深度随着波长增加而增加。过薄的晶圆会导致长波光吸收不足,降低短路电流。而过厚的晶圆则会增加光生载流子的扩散距离,导致体复合增加,降低开路电压和填充因子。因此,存在一个最佳厚度,使得光吸收和电荷载流子复合损失达到最佳平衡。这个最佳厚度不仅取决于硅材料本身的特性,也受到表面钝化质量、晶体质量和陷光结构效率的影响。
机械强度与制造成本
随着晶圆厚度从180微米减少到100微米,甚至50微米以下,其机械强度急剧下降,变得更加易碎。这导致在切割、清洗、传输、印刷等电池制造过程中破损率显著增加。高破损率直接转化为更高的制造成本,可能会抵消因硅材料减少而带来的成本优势。因此,在选择晶圆厚度时,需要综合考虑材料成本、制造良率以及设备投资等因素。
光谱共焦位移传感器在厚度与制造中的应用
晶圆切割和研磨过程中的在线厚度控制
在硅锭切割成片以及后续的研磨减薄过程中,光谱共焦位移传感器可以实时、非接触地测量晶圆厚度。这使得生产设备能够即时调整切割和研磨参数,确保每片晶圆的厚度均匀性达到设计要求,有效控制批次间的厚度一致性,从而显著降低因厚度不合格导致的废品率。
多层薄膜厚度测量
在太阳能电池制造过程中,涉及到多种薄膜沉积,如减反射膜、钝化层、金属电极等。光谱共焦位移传感器可以穿透透明或半透明薄膜,测量其厚度,甚至可以区分不同层的厚度。这对于优化各功能层的光学和电学性能,进而提升电池效率至关重要。
电池片生产过程中的质量控制
在整个超薄电池片的生产流程中,光谱共焦位移传感器可以作为关键的质量控制工具,对不同工艺阶段的厚度进行精确测量,确保产品满足严格的质量标准,提高整体生产良率。