光谱共焦位移传感器FWCU01系列:破解透明测量难题,定义高精度新基准

来源:富唯电子

发布时间:2026-01-29

   在3C电子、新能源等高端领域中,透明/半透明物体高精度测量是行业痛点,传统方案受材质特性与复杂形态限制,难以满足品质与效率需求。

  FWCU01系列光谱共焦位移传感器应运而生,凭借核心技术攻克透明测量难题,以全材质适配、纳米级精度、智能协同等优势,成为高端制造质控利器。



   

 




   
01    
核心技术:破解透明测量痛点    
依托光谱共焦技术,实现非接触式测量,可精准穿透玻璃、薄膜等透明/多层材质界面,摆脱透光率、反射率限制,无盲区捕捉数据。


具备全材质适配能力,涵盖透明、金属、塑料等各类材质及复杂表面,一款设备覆盖多品类检测,降低企业投入成本。




   
02    
极限性能:兼顾精度与效率    


 纳米级精度:分辨率0.006μm

 绝对精度最高0.2μm;

 33kHz超高采样频率,实现高速动态监测,适配生产线高效检测需求。

 9.5-80mm多量程可选,

 ±60°超大角度测量能力,精准扫描弧形轮廓,覆盖常规及复杂形态检测需求。




   
03    
智能协同:适配自动化生产    


支持1拖2光谱头对射测厚,内置数据存储与3轴编码器触发功能,可与运动平台无缝联动,适配自动化生产全流程。




   
04    
全场景赋能多行业    



广泛适配高端制造核心检测场景:

  • 3C电子:显示器玻璃厚度、光学镜片曲率监测等;

  • 新能源:锂电池隔膜平整度、透明薄膜晃动检测等;

  • 通用制造:零部件凹槽深度、基板卷曲度检测等。


光谱共焦位移传感器核心技术突破测量痛点,为透明/复杂材质测量提供精准解决方案。


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