东芝推出采用TOLL封装的第3代650V SiC MOSFET

来源:Toshiba Corporation(东芝)

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发布时间:2025-09-19

阅读量:28

东芝电子元件及存储装置株式会社(“东芝”)近日宣布,推出三款650V碳化硅(SiC)MOSFET——“TW027U65C”、“TW048U65C”和“TW083U65C”。这三款产品配备其最新[1]第3代SiC MOSFET芯片,并采用表面贴装TOLL封装,适用于开关、光伏发电机功率调节器等工业设备。三款器件已开始支持批量出货。



三款新产品是东芝第3代SiC MOSFET,采用通用表面贴装TOLL封装,与TO-247和TO-247-4L(X)等通孔封装相比,可将器件体积锐减80%以上,并提升设备功率密度。


此外,TOLL封装还具有比通孔封装更小的寄生阻抗[2],从而降低开关损耗。作为一款4引脚[3]封装,支持对其栅极驱动的信号源端子进行开尔文连接。这减少封装内部源极线电感的影响,实现高速开关性能;在TW048U65C的外壳中,与东芝现有产品[5]相比,其开通损耗降低约55%,关断损耗降低约25%[4],有助于降低设备功耗。


未来东芝将继续扩大其SiC功率器件产品线,为提高设备效率和增加功率容量做出贡献。


第3代SiC MOSFET封装产品线



测量条件:VDD=400V、VGS=18V/0V、ID=20A、Ta=25°C、L=100μH、Rg(外部栅极电阻)=4.7Ω

续流二极管采用各产品源极及漏极间的二极管。(东芝截至2025年8月的比较)

图1:TO-247与TOLL封装的导通损耗(Eon)和关断损耗(Eoff)比较


应用


  • 服务器、数据中心、通信设备等中的开关

  • 电动汽车充电站

  • 光伏逆变器

  • 不间断电源

特性


  • 表面贴装TOLL封装,实现设备小型化和自动化组装,低开关损耗

  • 东芝第3代SiC MOSFET

1)

通过优化漂移电阻与沟道电阻比,实现漏源导通电阻的良好温度依赖性

2)

低漏源导通电阻×栅漏电荷

3)

低二极管正向电压:VDSF=–1.35V(典型值)(VGS=–5V)


主要规格


(除非另有说明,Ta=25°C)

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