11 年技术沉淀!立仪科技 A 系列光谱共焦控制器震撼发布

来源:LightE(立仪科技)

作者:-

发布时间:2025-07-29

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依托 11 年光谱共焦技术研发积累,深圳立仪科技推出全新光谱共焦位移传感器 A 系列控制器,以升级性能与细节优势,为工业精密测量提供精准、高效、灵活的解决方案。


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性能全面跃升,筑牢精密测量核心优势

      A 系列控制器搭载边缘优化、滤波等多重算法,从源头保障数据可靠。支持指定频率连续、外触发、编码器等多种工作模式,配备 Ethernet、EtherCAT、模拟量、RS485/422 等多种工业接口。可完成高度、单边测厚、对射测厚、高度差测量,采样速度最高可达 13000Hz,为工业精密测量提供高效稳定的技术支持。



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细节精心打磨,彰显专业贴心优势

      A系列控制器在功能细节更显专业贴心:支持自定义 603 微秒以上曝光的 dark 区间,有效降低底噪;交替光源可通过上位机或 IO 口控制双灯亮暗。触发控制便捷高效,支持单信号采多帧及合并功能,IO 输入可快速归零、重置 IP。自动曝光调节范围和灵敏度(2 档)可自定义调整,双通道独立模拟量输出及对射测厚输出精度达 16bit,全面提升测量便捷性与精准度。

技术参数


产品尺寸



应用案例

      立仪科技以 11 年技术沉淀打造的 A 系列控制器,将成为工业精密测量场景的可靠助手,为行业质量管控保驾护航!无论是汽车制造的精密检测,还是电子半导体的细微测量,A 系列控制器都能以稳定性能与精准表现赋能生产,未来立仪科技也将持续深耕技术创新,为工业测量领域带来更多优质解决方案。


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