创视智能TS-C系列光谱共焦
在封装厚度测量这一关键领域,新技术的应用宛如璀璨星辰,为精确测量带来了具有革命性意义的突破,其中彩色共焦方式更是脱颖而出,成为备受瞩目的焦点。 彩色共焦(亦称为光谱共焦)有着独树一帜的优势,它对目标物的材质和颜色变化具有超强的抗干扰能力。在封装行业这个复杂多样的环境里,材料丰富繁杂,从普通的塑料到珍
新品介绍
光谱共焦测量液晶屏玻璃的平面度
创视智能光谱共焦位移传感器可以实现0.02 µm的重复精度,±0.02% of F.S.的线性精度,最高30kHz的测量速度,支持485、模拟量、外部电平触发、USB、以太网、的数据传输接口。实现液晶屏玻璃的精确测量和实时监控,为生产和质量检测提供有力支持。同时我们产品也广泛应用于3C电子、半导体、
应用方案
光谱共焦应用之手机玻璃屏幕平面度测量
随着科技的飞速发展,智能手机已成为我们生活中不可或缺的一部分。而手机屏幕作为人机交互的直接界面,其精密度直接影响到用户的视觉体验。然而,玻璃屏幕的生产过程中,却要经过切割、精雕加工、修边、粗精磨面数道到工序的层层加工,因此在加工过程中如何确保其平面度合格标准成为了一个亟待解决的问题。
应用方案
行业应用丨基于光谱共焦技术的透明胶水检测
透明胶水作为一种常见的粘合剂,不仅提高了产品的组装效率,也因其透明性而满足了产品外观的美观要求。它在工业生产中扮演着重要角色,被广泛应用于电子产品组装、汽车制造、医疗设备、家具制造、建筑行业以及日常消费品的生产等多个领域。
应用方案
【应用案例】光谱共焦传感器对射测量陶瓷片厚度
本期应用案例为采用创视智能光谱共焦位移传感器对陶瓷片厚度的测量。陶瓷制品在各个领域都有广泛的应用,如电子、化工、建筑等。不同应用场景对陶瓷制品的性能要求各不相同,其中厚度是一个重要的考虑因素。通过精确测量陶瓷片的厚度,可以确保产品满足特定应用场景的需求,如高温环境下的稳定性、绝缘性能等。通
应用方案
光谱共焦位移传感器对射测量半导体晶圆厚度
晶圆作为半导体芯片的基础载体,其厚度的精确控制直接影响到芯片的性能、可靠性和最终产品的成品率。通过准确的晶圆厚度测量,可以确保芯片在制造过程中的稳定性和一致性,从而提高产品的整体质量。
应用方案
11 年技术沉淀!立仪科技 A 系列光谱共焦控制器震撼发布
A 系列控制器搭载边缘优化、滤波等多重算法,从源头保障数据可靠。支持指定频率连续、外触发、编码器等多种工作模式,配备 Ethernet、EtherCAT、模拟量、RS485/422 等多种工业接口。可完成高度、单边测厚、对射测厚、高度差测量,采样速度最高可达 13000Hz,为工业精密测量提供高效稳定的技术支持。
新品介绍
光谱共焦传感器在活塞槽深槽宽测量中的应用
在活塞生产制造中,精确测量槽深和槽宽至关重要。然而,传统测量方法面临诸多难题。活塞槽结构复杂,深度有限,内部表面可能粗糙且存在不规则,常规量具难以精准测量;同时,活塞材质多样,反光特性各异,易干扰测量信号,且生产线上对快速检测的需求难以被传统方法满足。
应用方案