光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描
来源：立仪科技
发布时间：2024-11-07
阅读量：19
01｜检测需求：扫描薄膜圆圈的高度差
02｜检测方式
客户要求扫描薄膜圆圈的高度差，根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量
03｜光谱共焦测量结果
薄膜圆圈的高度差轮廓
04｜光谱共焦侧头
D40A30侧头相关参数
05｜H系列控制器
H系列控制器相关参数
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