光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描

来源:立仪科技

作者:-

发布时间:2024-11-7

阅读量:4

01|检测需求:扫描薄膜圆圈的高度差

 

光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描1

 

02|检测方式

客户要求扫描薄膜圆圈的高度差,根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量

03|光谱共焦测量结果

 

薄膜圆圈的高度差轮廓

 

光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描2

 

04|光谱共焦侧头

 

D40A30侧头相关参数

 

光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描3

 

05|H系列控制器

 

H系列控制器相关参数

 

光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描4

 

光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描5

 

0
0
收藏

免责声明

  • 1、本文内容版权归属原作者、原发表出处。若版权所有方对本文的引用持有异议,请联系感算商城(service@gansuan.com),我方将及时处理。
  • 2、本文的引用仅供读者交流学习使用,不涉及商业目的。
  • 3、本文内容仅代表作者观点,感算商城不对内容的准确性、可靠性或完整性提供明示或暗示的保证。读者阅读本文后做出的决定或行为,是基于自主意愿和独立判断做出的,请读者明确相关结果。
  • 4、如需转载本方拥有版权的文章,请联系感算商城(service@gansuan.com)注明“转载原因”。未经允许私自转载感算商城将保留追究其法律责任的权利。
在线客服 微信咨询 0 样品清单 浏览足迹 有奖反馈 回顶部