来源:立仪科技
作者:-
发布时间:2024-11-7
阅读量:4
01|检测需求:扫描薄膜圆圈的高度差
02|检测方式
客户要求扫描薄膜圆圈的高度差,根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量
03|光谱共焦测量结果
薄膜圆圈的高度差轮廓
04|光谱共焦侧头
D40A30侧头相关参数
05|H系列控制器
H系列控制器相关参数
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