光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描-感算商城

光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描

来源：立仪科技

作者：-

发布时间：2024-11-07

阅读量：12

01｜检测需求：扫描薄膜圆圈的高度差

02｜检测方式

客户要求扫描薄膜圆圈的高度差，根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量

03｜光谱共焦测量结果

薄膜圆圈的高度差轮廓

04｜光谱共焦侧头

D40A30侧头相关参数

05｜H系列控制器

H系列控制器相关参数

免责声明

2、本文的引用仅供读者交流学习使用，不涉及商业目的。

3、本文内容仅代表作者观点，感算商城不对内容的准确性、可靠性或完整性提供明示或暗示的保证。读者阅读本文后做出的决定或行为，是基于自主意愿和独立判断做出的，请读者明确相关结果。

4、如需转载本方拥有版权的文章，请联系感算商城（service@gansuan.com）注明“转载原因”。未经允许私自转载感算商城将保留追究其法律责任的权利。

光谱共焦传感器行业应用|薄膜高度差扫描