【应用案例】光谱共焦传感器对射测量陶瓷片厚度-感算商城

【应用案例】光谱共焦传感器对射测量陶瓷片厚度

来源：TronSight(创视智能)

发布时间：2024-12-19

摘要

本期应用案例为采用创视智能光谱共焦位移传感器对陶瓷片厚度的测量。陶瓷制品在各个领域都有广泛的应用，如电子、化工、建筑等。不同应用场景对陶瓷制品的性能要求各不相同，其中厚度是一个重要的考虑因素。通过精确测量陶瓷片的厚度，可以确保产品满足特定应用场景的需求，如高温环境下的稳定性、绝缘性能等。通过创视智能光谱共焦位移传感器的高精度测量，可以确保陶瓷片的厚度达到既定的标准，避免因厚度不均或偏差过大而导致的产品质量问题。这对于陶瓷制品的制造商来说至关重要，有助于提升产品的整体质量和市场竞争力。

检测需求

检测项目：对射检测陶瓷片厚度测量范围：-0.6mm~0.6mm精度要求：0.01mm

创视智能光谱共焦位移传感器可以实现0.02 µm的重复精度，±0.02% of F.S.的线性精度，最高30kHz的测量速度，支持485、模拟量、外部电平触发、USB、以太网、的数据传输接口。实现对陶瓷片厚度的精确测量和实时监控，为陶瓷制品的生产和质量检测提供有力支持。同时产品也广泛应用于3C电子、半导体、光伏、新能源、汽车制造、市政检测等行业。产品型号支持根据客户需求定制，定制参数范围包括参考距离1~500mm、测量范围0.1~50mm、重复精度4~2000nm、线性度±0.02%of F.S.、采样频率最高30kHz。