来源:Molex(莫仕)
发布时间:2026-08-03
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克服测试和测量中的射频连接挑战
在高频环境下,连接器是造成测量误差的常见源头。工程师们经常需要应对插入损耗、相位不稳定性以及磨损导致的可重复性问题,这些问题会随着时间推移影响测量精确度。在高拔插率和自动化测试环境中,这些影响会被放大,常常导致团队不得不耗费宝贵的调试时间来判断异常是源于被测器件(DUT)还是连接器性能衰退。实验室、制造和现场环境中连接器策略的差异,将进一步增加相关性和验证工作流的复杂性。
要应对这些挑战,需要专门针对射频测试和测量的严苛要求而设计的互连解决方案。在毫米波频率下,具有低插入损耗和弯曲相位稳定性的高性能连接器对于缓解信号衰减问题起着重要作用。同样重要的是校准实践,通过运用 SOLT、TRL 或 ECal 技术在连接器接口处建立参考平面,用于对测试设置进行去嵌入并隔离 DUT 的性能。与规范的检测、清洁和生命周期追踪流程结合使用时,这些方法能最大限度降低测量不确定性,确保结果可重复且可信赖。
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适用于测试和测量的高性能射频解决方案
优化整个毫米波频谱的信号完整性
在毫米波和宽带频率下,连接器可能会导致信号衰减,从而限制测量精确度和整体系统性能。高频测试环境需要能够保持低插入损耗、稳定回波损耗和一致可重复性的连接器接口,以便对DUT行为进行可靠测量。
Molex莫仕通过Cardinal系列等精密射频连接器和电缆组件来满足以上需求,这些产品经过精心设计,可在高达145 GHz的频率下实现稳定性能。

在极端环境中保持射频性能
在高压实验室和现场环境中,连接器和电缆组件可能过早出现故障,导致意外停机和测试可靠性受到影响。这些环境需要稳健的互连解决方案,既能经受震动、极端温度和重复操作,又不会降低电气性能。
Molex莫仕提供坚固耐用的射频连接器和定制铠装Cardinal Test高频电缆组件,它们经过精心设计,可在要求严苛的环境中延长使用寿命并确保可靠运行,从而满足这一需求。

确保实验室和现场测试中的数据相关性
如果实验室、制造和现场环境采用不同的连接器策略,测量数据的关联性将难以得到保证,导致产品验证周期延长。要实现精确关联,需要采用标准化连接器和参考平面方法,并通过统一的接口选择、校准实践和生命周期管理进行支持。
Molex莫仕精密电缆和适配器可在不同环境中实现协调一致的连接器策略,从而提升测量一致性并加快产品上市进程。
