超紧凑型 LA 系列背照式 CMOS 与 CCD 线扫图像传感器
来源：Excelitas(埃赛力达)
发布时间：2026-06-22
埃赛力达推出超紧凑型 LA 系列背照式 CMOS 与 CCD 线扫图像传感器
新型线扫传感器在同类产品最小封装尺寸下，实现出色的速度、灵敏度与精度
埃赛力达Excelitas® 近日正式发布全新 LA 系列背照式 CMOS 与 CCD 线扫图像传感器。该系列产品专为满足高精度光学测量系统的需求而设计，在线扫成像应用中树立了微型化与性能的新标杆。
LA 系列线扫传感器采用超紧凑的芯片级封装，尺寸仅为 8.1 × 1.3 × 0.23 mm，是同类产品中最小的 1024 像素线扫传感器。尽管尺寸小巧，该系列仍可在 350 nm 至 1100 nm 的宽光谱范围内实现极高的量子效率，信噪比最高可达 70 dB，线扫描速率高达每秒 257,000 行，即使在动态或弱光环境下也能确保精确可靠的测量。
LA 系列同时适用于工业级和便携式平台，集高信号完整性、宽光谱响应以及超快读取速度于一体。标准的I2C接口和片上相关双采样（CDS）技术支持灵活的采集模式、内置温度监控和简便的数字集成，从而在精密计量、扫描、光谱分析和可穿戴传感等应用中实现可重复的性能，并简化系统设计。
埃赛力达战略市场开发与应用经理 Anand Pandy 表示：“LA系列产品为系统设计人员提供了一种强大的新选择，能够在空间极其受限的设计中实现高速、高精度的线扫描测量。该平台为下一代工业自动化、计量和传感应用提供了出色的信号完整性和性能。”
LA 系列提供多种配置选项，设计人员可根据具体应用需求选择合适的像素数量、像元间距和帧速率，适用领域包括直线与旋转编码器、表面扫描、基于三角测量的距离测量、光谱仪、多点触控显示以及条码读取等。
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