海伯森光谱共焦位移传感器，解决精准测厚难题-感算商城

海伯森光谱共焦位移传感器，解决精准测厚难题

来源：Hypersen(海伯森)

发布时间：2026-04-30

光谱共焦位移传感器解决测厚难题

光谱共焦位移传感器采用光谱共聚焦原理，结果不受光强干扰，材质适应性强；同轴位移检测，视野范围广；且用户操作简单，集控制、扫描和测量于一体，可高效检测工件的厚度，尤其是能有效解决业内透明材料的厚度检测难题，比如涂胶、多层玻璃和薄膜等。

案例介绍：样品厚度测量

● 检测需求：测量样品厚度

● 产品选型：传感头HPS-CFL040

● 测试方法：支架安装，双头测量

● 准备流程：搭建好测试平台，保证测试设备的正常运行；将样品用无尘布擦拭干净，调整Z轴高度至合适位置。

● 测试参照点：在样品上选取五个点位，测量厚度，运动机台每个点取10组厚度数据。

● 测试数据记录

测试结果参考

点光谱040测试样品P1，P2，P3，P4，P5五点厚度，每个点位记录10组数据。

P1点十组数据最大值为0.1891mm，最小值为0.1888mm，最大值与最小值的差值为0.0003mm。

P2点十组数据最大值为0.1929mm，最小值为0.1925mm，最大值与最小值的差值为0.0004mm。

P3点十组数据最大值为0.1776mm，最小值为0.1775mm，最大值与最小值的差值为0.0001mm。

P4点十组数据最大值为0.1888mm，最小值为0.1884mm，最大值与最小值的差值为0.0004mm。

P5点十组数据最大值为0.1798mm，最小值为0.1797mm，最大值与最小值的差值为0.0001mm。

海伯森点光谱共焦位移传感器产品选型

海伯森点光谱共焦位移传感器可实现亚微米级精度的检测；

在镜面表面±62°，漫反射表面±88°的情况下依旧能出色完成检测任务；

运行中支持最多四通道同步测量，在单通道下，测量频率可达72000Hz。

海伯森为市场客户提供多样的产品选型，包括HPS-CFL系列传感头25款和HPS-CF系列控制器5款，以满足在复杂场景下的不同检测要求。

海伯森专注于工业级传感器的技术研发和创新，提供专业高效能的视觉检测产品产品，为厚度在线测量行业提供精密的“量尺”。

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