海伯森点光谱应用案例之--不透明材质镀膜厚度检测-感算商城

海伯森点光谱应用案例之--不透明材质镀膜厚度检测

来源：海伯森技术

发布时间：2025-12-15

测量膜厚是现代工业和科研中的一项关键质量控制手段，它通过精确监控涂层或薄膜的厚度，直接确保产品在光学、电学、机械防护等方面的预期性能（如手机屏幕透光性、芯片运行稳定性、汽车漆面防腐性），同时能有效控制生产成本、节约原材料，并保证大规模生产的产品一致性与可靠性，是从研发到制造过程中不可或缺的重要环节。理论说得再透彻，不如让我们看一个海伯森点光谱在实际测厚应用的案例。

检测需求

根据客户提供的测试需求，利用我们的点光谱进行样品镀膜厚度的测量。

检测原理

测试传感器选型

测试方案

测试方法

在室内进行测试，确保室温正常
搭建好测试平台，保证测试设备的正常运行
镀膜为不透明材质，载物平台暂无触发式滑台，因此采用取点测量方式，通过测量高低差的方式，间接得到镀膜的厚度

圆形样品测试过程

测量镀膜位置1及实测值

测量基面位置1及实测值

测量镀膜位置2及实测值

测量基面位置2及实测值

测量镀膜位置3及实测值

测量基面位置3及实测值

圆形样品测试结果

测量位置	基面实际值（mm）	镀膜位实测值（mm）	高度差（mm）
位置1	0.4840	0.4991	0.0151
位置2	0.4854	0.4999	0.0145
位置3	0.4844	0.5015	0.0171
平均高度差			0.0156

长形样品测试过程

测量镀膜宽边1及实测值

测量基面1及实测值

测量镀膜窄边1及实测值

同理选择多组不同位置进行实测

长形样品测试结果

测量位置	基面实测值	镀膜宽边实测值（mm）	镀膜宽边位置高度差（mm）	镀膜窄边实测值（mm）	镀膜窄边位置高度差（mm）
位置1	0.2896	0.3090	0.0194	0.3152	0.0256
位置2	0.1912	0.3081	0.0169	0.3160	0.0248
位置3	0.1910	0.3089	0.0179	0.3164	0.0254
平均高度差			0.017975		0.024825