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IC芯片浮起的稳定检测方案

来源：OMRON（欧姆龙）

发布时间：2025-07-12

应用介绍

【行业】SEMI

【设备】测试分选机

【用途】用于将IC芯片按照要求进行分类和分选

应用场景

tray盘内IC芯片的浮起检测。

解决课题

■ 需要满足设备的小型化设计，达到省空间的目的。

■ 实现对于芯片1mm浮起的稳定检测。

价值提案

核心产品：智能激光传感器E3NC

■ 备有网络型放大器，方便导入并监控传感器实时状态。同时，放大器采用分离设计，既保证了检测头的体积小，也可在不同环境下调整放大器设置。

■ 1级激光光源，1m检测距离时的2mm光斑大小，确保IC芯片微小浮起的稳定检测。

智能激光传感器E3NC

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