IC芯片浮起的稳定检测方案
来源：OMRON（欧姆龙）
发布时间：2025-07-12
阅读量：3
应用介绍
【行业】SEMI
【设备】测试分选机
【用途】用于将IC芯片按照要求进行分类和分选
应用场景
tray盘内IC芯片的浮起检测。
解决课题
■ 需要满足设备的小型化设计，达到省空间的目的。
■ 实现对于芯片1mm浮起的稳定检测。
价值提案
核心产品：智能激光传感器E3NC
■ 备有网络型放大器，方便导入并监控传感器实时状态。同时，放大器采用分离设计，既保证了检测头的体积小，也可在不同环境下调整放大器设置。
■ 1级激光光源，1m检测距离时的2mm光斑大小，确保IC芯片微小浮起的稳定检测。
智能激光传感器E3NC
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